一、电子电工产品环境试验 GB/T 2423/ IEC60068-2 | |
试验方法 | 试验A:低温 |
标准号 | GB/T 2423.1-2008;IEC 60068-2-1:2007 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 |
试验目的 | 本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。
本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力 和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T 2423.22。 |
低温试验方法 |
——非散热试验样品低温试验: ● 试验Ab,温度渐变-温度稳定后通电 ——散热试验样品低温试验: ● 试验Ab,温度渐变; ● 试验Ae,温度渐变,试验样品在整个试验过程通电。 |
严酷等级 | 温度:-65℃ -55℃ -50℃ -40℃ -33℃ -25℃ -20℃ -10℃ -5℃ 5℃ 时间:2h 16h 72h 96h |
适用试验箱 | 低温试验箱LRHS-101(A B C)-LD、高低温试验箱LRHS-101(A B C)-L、高低温交变试验箱LRHS-101(A B C)-LJ、大型步入式高低试验室 |
试验箱要求 | 试验箱内的温度变化速率不超过1K/min(不超过5min时间的平均值) |
试验方法 | 试验B:高温 |
标准号 | GB/T 2423.2-2008;IEC 60068-2-2:2007 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 |
试验目的 | 本高温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。 本高温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T 2423.22。 |
高温试验方法 | ——非散热试验样品高温试验: ● 试验Bb,温度渐变 ——散热试验样品高温试验: ● 试验Bb,温度渐变; ● 试验Be,温度渐变,试验样品在整个试验过程通电。 |
严酷等级 | 温度:1000℃ 800℃ 630℃ 500℃ 400℃ 315℃ 250℃ 175℃ 155℃
70℃ 65℃ 60℃ 55℃ 50℃ 45℃ 40℃ 35℃ 30℃ 持续时间:2h 16h 72h 96h 168h 240h 336 1000h |
适用试验箱 | 高温试验箱LRHS-101-LG、大型步入式高温试验室、高温老化房 |
试验箱要求 | 试验箱内的温度变化速率不超过1K/min(不超过5min时间的平均值) |
试验方法 | 试验Cab:恒定湿热试验 |
标准编号 | GB/T 2423.3-2006;IEC 60068-2-78:2001 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 |
试验范围 | 本部分规定了试验的严酷等级,如高温度、高湿度和持续时间等。本部分适用于散热和非散热样品。 本部分适用于小型设备及元件,同时也适用于试验箱外的测试装置有复杂联接的大型设备,这种联接需要一定的装配时间。 在安装期间,可以不用预热或维持特定的试验条件。 |
严酷等级 | 试验的温度、相对湿度: (30±2)℃ (93±3)%RH (30±2)℃ (85±3)%RH (40±2)℃ (93±3)%RH (40±2)℃ (85±3)%RH 推荐的持续时间为:2h、16h、24h和2d、4d、10d、21d或56d。 |
适用试验箱 | 恒温恒湿试验箱LRHS-101-LH、高低温湿热试验箱LRHS-101(A B C)-LS、高低温交变湿热试验箱LRHS-101(A B C)-LJS、大型步入式高温湿热试验室 |
试验箱要求 | 散热样品的试验,试验箱的容积至少为散热样品体积的5倍。 考虑到测试时的绝对误差、温度渐变以及工作空间内的温差,本部分中规定的温度容差为±2K。为了维护试验箱内的相对湿度在规定的容差范围内, 必须保持试验箱内的任意两点在任何时间内其温度差异尽可能的小。若温差超过1K,则不能达到所需的湿度条件。 短期的温度波动也必须保持±0.5K范围内以维持所要求的湿度条件。 |
试验方法 | 试验Db:交变湿热(12h+12h循环) |
标准号 | GB/T2423.4-2008 IEC60068-2-30:2005 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环) |
试验范围 | 本部分适用于确定元件、试验或其他产品在高湿度与温度循环变化组合且通常会在试验样品 表面产生凝露的条件下使用、运输和贮存的适应性。如果本试验用于检验带包装样品在运输和贮存过程中的性能时,应带包装一起进行试验。 |
严酷等级 | 1、高温和循环次数的组合决定了试验的严酷程度。 2、 严酷程度应从下列数值中选择 a) 高温:40℃;循环次数:2、6、12、21、56 b) 高温:55℃;循环次数:1、2、6 |
试验方法 | 温度应在3h~6h内降到25℃±3K。在3h±15min内温度达到25℃±3K。在最初15min相对湿度应不小于90%外,其余时间的相对湿度应不小于95%。温度应在3h~6h内降到25℃±3K。温度应保持在25℃±3K,同时相对湿度不小于95%,直至24小时一个循环结束。 |
适用试验箱 | 恒温恒湿试验箱LRHS-101-LH、高低温交变湿热试验箱LRHS-101(A B C)-LJS、大型步入式温湿度交变试验室、步入式湿热循环试验室 |
试验方法 | 试验Cy:恒定湿热 |
标准号 | GB/T 2423.50-2012 IEC 60068-2-67:1995 |
标准名称 | 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热 主要用于元件的加速试验 |
范围 | 本部分规定了一种以加速方式评价小型电工电子产品(主要是非气密元件)耐湿热劣化效应的试验方法。 本试验不适用于评价诸如腐蚀和变形等外部效应。 |
概述 | 在本试验中,样品在较长的时间内承受很高的未饱和湿热蒸汽压力的作用。通常要施加偏压。 本试验在相对湿度为85%、温度为85℃的条件下,提供多种优先选择的试验持续时间。 就塑封元件而言,劣化是由塑料吸收水汽和水气沿引出端渗入引起的。 |
严酷等级 | 温度:85℃ 相对湿度:85% 持续时间:168h、504h、1000h、2000h 注:不主张重新开始一项试验,但如果要求试验样品经受大于2000h的试验,则应该按照第7章的要求重新开始。试验应在前一试验降温阶段结束后96h内重新运行。 除非另有规定,否则在试验之间的间隔期应将试验样品保持在检测或者试验用的标准大气条件下。 a、 温度容差:试验箱工作空间内为±2K。 b、 相对湿度容差:±5% c、 持续时间容差:+5% |
适用试验箱 | 恒温恒湿试验箱LRHS-101-LH、高低温交变湿热试验箱LRHS-101(A B C)-LJS、大型步入式温湿度交变试验室、步入式湿热循环试验室 |
试验方法 | 试验Ed:自由跌落 |
标准号 | GB/T 2423.8-1995 IEC 68-2-32:1990 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落 |
试验目的 | 确定产品在搬运期间由于粗率装卸遭到跌落的适应性,或确定安全要求用的最低牢固等级。 本试验主要用于非包装的试验样品,以及在运输箱中其包装可以作为样品一部分的试验样品。 |
严酷等级 | 应从下列诸值中选取跌落高度: 25mm、50mm、100mm、250mm、500mm、1000mm |
试验方法 | 重复自由跌落 |
跌落次数 | 50、100、200、500、1000次 |
跌落高度 | 500mm |
跌落频率 | 约为每分钟十次 |
匹配设备 | 跌落试验机LRHS-318-UD |
试验方法 | 试验J和导则:长霉 |
标准号 | GB/T 2423.16-2008 IEC 60068-2-10:2005 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉 |
范围 | 本部分规定了确定电子产品上长霉程度和长霉对产品特性及其他相关性能影响的试验方法。 由于长霉条件包括高的相对湿度,本试验也可以用于评价电子产品在潮湿条件下一段时期的运输、贮存以及使用的适应能力。 |
试验方法 | 试验方法1: ——外观检查确定霉菌生长程度; ——长霉引起的物理操作; ——长霉条件下对功能和/或电性能的影响,如果相关规范中有要求。 如果相关规范要求检查功能和/或测量电性能,培养期应延长至56d。 试验方法2: 用营养液对样品预处理后,进行为期28d的培养,确定: ——外观检查确定霉菌生长程度; ——长霉引起的物理操作; ——长霉条件下对功能和/或电性能的影响,如果相关规范中有要求。 通过使用营养液来模拟污染未长霉的样品,会降低样品表面的防霉性能。如果检查功能和/或测量电气性能,应当考虑该影响。 使用营养液会发生长霉;如果没有长霉,应当考虑防霉剂的影响。 |
试验设备要求 | 小试样的接种: 应采用带盖子的、有放置或悬挂样品及对照条装置的玻璃或者塑料容器。 容器的大小和形状要保证底部有足敞露的水表面积,以保持容器内的相对度大于90%。悬挂装置应保证放置的试样不浸在水中或溅到水滴。 容器放入试验箱中以培养样品和对照条,试验箱内整个工作空间的温度均匀保持在28℃~30℃范围内的。控温器动作引起的温度周期循环变化不应超过1℃/h。 大样品的接种: 对于较大的样品,应采用合适的具有良好的密封门的湿度试验箱,以防止箱内和实验室之间的空气交换。 整个工作空间的相对湿度应保持大于90%,不允许有冷凝水从试验箱顶部或壁上滴到样品和对照条上。整个工作空间的温度应均匀保持在28℃~30℃范围内,控制器运行引起的温度变化不应超过1℃/h。 为了使整个工作空间达到规定的均匀的温度和湿度,可以使箱内空气强迫循环,样品表面的空气流速不应超过1m/s。 |
严酷等级 | 每种实验方法的严酷等级取决于培养周期。 方法1 ——严酷等级1 28d ——严酷等级2 56d 方法2 28d |
湿热贮存 | 在接种前,样品应当在温度(29±1)℃、相对湿度90%~100%的条件下至少贮存4h。 |
适用试验箱 | 霉菌试验箱LRHS-101-RJM、LRHS-225-RJM、LRHS-504-RJM、LRHS-800-RJM、LRHS-1000-RJM |
试验方法 | 试验Ka:盐雾 |
标准号 | GB/T2423.17-2008 IEC 60068-2-11:1981 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾 |
试验目的 | 本试验适用于比较具有相似结构的试样的抗盐雾腐蚀的能力。 本试验也适用于评定保护性涂层的质量以及均匀性。 使用时,应考虑以下的限制: a、 本试验不适合作为通用的盐雾腐蚀试验; b、 本试验也不适用于在含盐大气中使用的单个试样的评定。 对于设备以及零部件,试验Kb提供了更符合实际情况的试验条件以及单个试样的评定方法。 但如果某些情况下为了确保质量,相关规范要求个别试样采用本试验方法时,试样应当作为整个组件或者设备的组成部分连同实际的保护性设备(箱体、盖子、外套等)一起进行试验。 |
试验方法/条件 | 盐溶液浓度(5±1)%(质量比),(35±2)℃时PH值6.5~7.2内 试验箱的温度维持在(35±2)℃,收集盐雾为1.0~2.0mL 80cm²每小时的沉降量 |
试验周期 | 16h、24h、48h、96h、168h、336h、672h |
适用试验箱 | 盐雾腐蚀试验箱LRHS-108-RY、智能型盐雾腐蚀试验箱LRHS-108-RJY、盐雾试验室 |
试验箱要求 | 试验箱内的条件维持在规定的容差内 试验箱应具有足够大的容积,能提供稳定的、均匀的试验条件(不受湍流的影响),且在试验过程中这些条件不受试样的影响 盐雾不能直接喷射到试样上 箱顶、箱壁或其他部位集聚的冷凝液不能滴落到试样上 试验箱应排气良好以防止压力升高,确保盐雾分布均匀。排气孔末端应进行风防护,以避免试验箱内产生较强的气流 |
试验方法 | 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) |
标准编号 | GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) |
试验目的 | 适用于预定耐受含盐大气的元件或设备,其耐受程度随选用的严酷等级定 |
试验方法/条件 | 盐溶液浓度(5±1)%(质量比),(20±2)℃时PH值6.5~7.2内 喷雾温度在15~35℃,收集盐雾每小时的沉降量在1.0~2.0mL之间 |
严酷等级 | 严酷等级(1):(2h喷雾周期+7天的湿热贮存)*4次 严酷等级(2):(2h喷雾周期+20h~22h湿热贮存)*3次 严酷等级(3):(2h喷雾周期+20h~22h湿热贮存)*3次+标准大气3天贮存 严酷等级(4),(5),(6):分别为(3)*2次、4次、8次 |
试验方法 | 试验Kc 接触点和连接件的二氧化硫试验方法 |
标准编号 | GB/T 2423.19-1981 |
标准名称 | 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc 接触和连接件的二氧化硫试验方法 |
试验目的 | 确定含有二氧化硫的大气对贵金属制的或有贵金属镀层的接触点的接触特性的影响。但不包括银和某些银合金。 |
试验方法/条件 | 二氧化硫(注):25±5ppm(体积比),二氧化碳:不大于4500ppm(体积比),温度:25±2℃,相对湿度:75±5% |
试验周期 | 4天、10天、21天 |
适用试验箱 | 二氧化硫试验箱LRHS-297-SO2 |
试验箱要求 | 试验箱内放置试验样品空间的条件应在规定的范围内 试验样品不应直接经受气流的冲击 试验气体对试验样品的平均相对速度应为20~60米/小时(约6~17毫米/秒)或使用搅拌装置使气体和试验样品有近似的相对速度 试验箱的内壁不允许出现凝露 |
试验方法 | 试验Kd 接触点和连接件的硫化氢试验方法 |
标准编号 | GBT 2423.20-1981 |
标准名称 | 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd 接触点和连接件的硫化氢试验方法 |
试验目的 | 确定含有硫化氢的大气对下面材料制成的接触点和连接件的接触特性的影响。 银或银合金; 有其他保护层的银; 用银或银合金覆盖的金属。 检查用上述材料做成的包式或卷式的连接件的紧密性和有效性。 |
试验方法/条件 | 硫化氢:10~15ppm(体积比),温度:25±2℃,相对湿度:75±5% |
试验周期 | 4天、10天、21天 |
适用试验箱 | 二氧化硫试验箱LRHS-297-SO2 |
试验箱要求 | 试验箱内放置试验样品空间的条件应在规定的范围内 试验样品不应直接经受气流的冲击 试验气体对试验样品的平均相对速度应为20~60米/小时(约6~17毫米/秒)或使用搅拌装置使气体和试验样品有近似的相对速度 试验箱的内壁不允许出现凝露 试验箱不应直接暴露在阳光下,并且在试验箱内任何暴露表面测试的照度(由白天光线或白炽灯或日光灯产生)范围是在50到300勒克司。 |
试验方法 | 试验M 低气压 |
标准编号 | GBT 2423.21-2008;IEC 60068-2-13:1983 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验M 低气压 |
范围 | 适用于室温条件下的低气压试验 |
试验方法/条件 | 试验箱(室)内的温度应在规定的试验标准大气条件温度范围内。 将试验箱(室)内的气压降低到符合规定严酷等级的值,如有需要,相关规范可规定气压变化速度不大于10kPa/min。 当要求样品在运行状态下进行试验时,样品应通电或加电气负载,应检查确定试验样品是否能满足相关规范规定的功能。 试验样品可按规定的持续时间保持在运行状态,或是按相关规范的要求断开电源。 气压应保持规定的持续时间。 使气压恢复到常压,若相关规范有要求时,气压变化的速度应不超过10kPa/min。 |
试验周期 | 5min,30min,2H,4H,16H |
适用试验箱 | 低气压试验箱LRHS-101-LF |
试验箱要求 | 在恢复气压至正常时,应注意避免发生由于辅助设备、装置及导入不清洁的空气而使箱内空气发生污染的情况。 当对散热试验样品进行试验时,相关规范可根据GB/T2423.26的要求对试验箱(室)进行适当的规定。 |
试验方法 | 试验N 温度变化 |
标准编号 | GBT 2423.22-2012;IEC 60068-2-14:2009 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验N 温度变化 |
范围 | 确定元件、设备和其它产品经受环境温度迅速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。 |
试验方法/条件 | 试验室环境温度; 高温; 低温;< br /> 暴露持续时间; 转换时间或变换速率; 试验循环数。 |
适用试验箱 | 快速温度变化试验箱LRHS-101B-LK |
试验箱要求 | 可使用两个独立的温度试验箱或一个快速温度变化速率的试验箱。 如果使用两个试验箱,一个试验箱用于低温,一个试验箱用于高温,两试验箱的位置应使得试验 样品从一个试验箱转换到另一个试验箱能在规定的时间内完成。可采用人工或自动转换方法。 试验箱中放置试验样品的任何区域应能保持试验规定的空气温度。 在放入试验样品后,空气温度应在暴露持续时间的10%以内达到规定的容差范围。 |
试验方法 | 试验Sa模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 |
标准编号 | GBT 2423.24-2013 IEC 60068-2-5:2010 |
标准名称 | 环境试验 第2部分试验方法 试验Sa模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 |
范围 | 检查设备或部件受太阳辐射条件影响的程度 |
试验方法/条件 | 温度:箱内温度应下雨1K/min的速率升温或降温 湿度:采用IEC 60068-2-78的推荐值 臭氧及其他污染气体:由滤光器排除箱外 |
适用试验箱 | 氙灯耐气候试验箱LRHS-767S-SN |
试验箱要求 | 试验箱内设有能保持规定湿度、气流速度和湿度条件的装置。 试验箱内的温度测量应在低于规定的辐射测量平面0~50mm的水平面上的一个或几个位置处进行,测温装置要有足够的遮挡以防止辐射热, 同时这个(些)测量位置位于试验样品和试验箱壁之间一半距离处,或离试验样品1m的距离,取这两个位置距离较小者。 |
试验方法 | 试验Z/AM 低温/低气压综合试验 |
标准编号 | GBT 2423.25-1992 |
标准名称 | 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM 低温/低气压综合试验 |
试验目的 | 确定元件、设备和其它产品对其使用和(或)贮存中遇到的低温-低气压综合环境的适应性 |
试验方法/条件 | 温度:-55℃,气压:4kPa,对应高度:22100m,持续时间:2H 温度:-55℃,气压:15kPa,对应高度:13600m,持续时间:2H 温度:-55℃,气压:25kPa,对应高度:10400m,持续时间:2H |
适用试验箱 | 高低温低气压试验箱LRHS-101A-LF |
试验箱要求 | 试验箱应能产生和保持GB 2423.1试验Ab或试验 Ad和GB 2423.21试验M中规定的试验条件。 但在温度和压力变化期间,对箱壁的温度要求不适用。 恢复压力时,应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内的空气产生污染。 |
试验方法 | 试验Z BM_ 高温 低气压综合试验 |
标准编号 | GB T 2423.26-2008 IEC60068-2-41:1976 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分_ 试验方法 试验Z BM_ 高温 低气压综合试验 |
试验目的 | 确定元件、设备和其它产品对其贮存和使用中遇到的高温-低气压综合环境的适应性。 |
试验方法/条件 | 温度:155℃,气压:4kPa,持续时间:2H 温度:85℃,气压:4kPa,持续时间:2H 温度:155℃,气压:15kPa,持续时间:2H 温度:85℃,气压:15kPa,持续时间:2H |
适用试验箱 | 高低温低气压试验箱LRHS-101A-LF |
试验箱要求 | 试验箱应能保持GB/T2423.2试验Bb(非散热试验样品)或试验Bd(散热试验样品)和GB/T2423.21试验M中规定的试验条件。 但在温度和压力变化期间,对箱壁的温度要求不适用。 恢复压力时,应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内空气产生污染。 |
试验方法 | 试验ZAMD:低温低气压湿热连续综合试验 |
标准编号 | GBT2423.27-2005 IEC 60068-2-39:1976 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验ZAMD:低温低气压湿热连续综合试验 |
试验目的 | 由低温、低气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起,其次升温,然后与湿热条件结合在一起。 本试验应用了试验A和试验M。虽然未完全按照试验D引入湿度,但用“Z/AMD”来表示本试验最恰当和最具提示性。 本试验用于飞行器所使用的元器件和设备,特别是在非加热和非增压部位的元器件和设备。 |
试验方法/条件 | 试验箱内的温度应以不超过1℃/min(5min的平均值)的速率降低到相关规范规定的低温值,这个值应是试验A中给出的数值之一。 温度维持在规定值,试验箱内的气压应以不超过15kPa/min的速率降至相关规范规定的低压值; 这个值应是试验M中给出的数值之一。应按相关规范进行功能检查或任何必要的检测。 |
适用试验箱 | 高低温低气压试验箱LRHS-101A-LF |
试验箱要求 | 试验箱应能使试验样品同时经受试验A和试验M分别规定的严酷范围的低温和低气压,在1h内能从极冷条件升到30℃~35℃。 在升温且同时保持相当恒定的低气压期间,试验箱在装有试验样品的工作空间应具有加湿或导入水汽的装置。 由于本试验有水气进入,并常导致绝缘电阻下降,因此试验产品的引线穿过试验箱壁时应无破损或交连,并气密密封。为此连接试验样品 的引线本身应具有适当的尺寸和绝缘。 如果试验样品有运动的零部件,它们的运动可能会由于试验样品内部结冰而受到阻碍,那么试验箱应具有监测这种运动的电子或机械装置。 |
试验方法 | 试验Kca 高浓度二氧化硫试验方法 |
标准编号 | GBT 2423.33-1989 |
标准名称 | 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kca 高浓度二氧化硫试验方法 |
试验目的 | 适用于确定电子电工产品及其使用材料在化学腐蚀环境条件下使用的适用性 |
试验方法/条件 | 试验阶段:升温,温度:18℃~28℃ 升到40±2℃,相对湿度:≥85%,时间:1.5~2H 化学气体的状况:开始通气并按规定控制浓度 |
适用试验箱 | 二氧化硫试验箱LRHS-297-SO2 |
试验箱要求 | 二氧化硫腐蚀气体试验箱(室,以下简称腐蚀箱)应良好密封,以防止化学气体逸出。 它的有效空间应满足本标准3.1条和3.2条的规定,试验箱并须配备合适的温度,湿度测试和控制装置。 腐蚀箱内接触化学腐蚀气体的附件和箱壁应采用不与二氧化碳反应、不吸收二氧化碳和不影响试验气体腐蚀效应的材料制造。 腐蚀箱内有效空间的气体应该流动,风速应不大于1m/s。 腐蚀箱的结构应保证凝结水不滴落在试验样品上,腐蚀箱还应有排气装置,使排出的气体不致污染实验室及周围大气。 试验箱的功能检验应符合本标准附录A(补充件)的规定。 |
试验方法 | 试验ZAD 温度湿度组合循环试验 |
标准编号 | GBT 2423.34-2005 IEC60068-2-38:1974 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验ZAD 温度湿度组合循环试验 |
试验目的 | 提供一种组合试验方法,主要用于元器件类试验样品,以加速方式来确定试验样品在高温、高湿和低温条件劣化作用下的耐受性能。 |
试验方法/条件 | 温度:(25±2)℃~(65±2)℃,相对湿度:80%~96% |
严酷等级 | 24h循环10次 |
适用试验箱 | 高低温交变湿热试验箱LRHS-101A-LJS |
试验箱要求 | 试验样品暴露于湿热后,接着暴露于低温,两种暴露可在一个试验箱或在两个试验箱内进行。 |
试验方法 | 试验R:水试验方法和导则 |
标准编号 | GB T 2423.38-2008 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分_ 试验方法 试验R:水试验方法和导则 |
试验目的 | 适用于在运输、贮存或使用期间可能遭受滴水、冲水或浸水的电工电子产品的试验方法,是考核电工电子产品 的外壳和遮盖物等密封件在水试验后或在试验期间能否保证设备和元件良好的工作性能。 |
试验方法/条件 | 试验Ra:滴水——用人工降雨和模拟冷凝或泄露形成降水的方法进行。 试验Rb:冲水——以一定的压力将水流冲击试件,并可以假定从任何角度冲向试件。 试验Rc:浸水——将试件浸入到规定深度或相应压力的水中。 |
严酷等级 | 降雨强度R,mm/h(结合水滴尺寸分布,mm) 10±5(Dso=1.9±0.2);100±20(Dso=2.9±0.3);400±50(Dso=3.08±0.4)。 持续时间,min 10,30,60,120 降雨高度h,m:0.2,2 倾斜角度α,度:0,15,30,45 持续时间,min:3,10,30,60 滴嘴角度α,度:±60 每个孔中水的流速,L/min:0.07±5% 管子的摆动角度β,度:±60 持续时间,min:2X5 |
适用试验箱 | 滴水试验装置LRHS-IPX1/IPX2 |
试验箱要求 | 人造雨法的滴水试验设备是由产生水滴的一个或多个喷嘴组成。 试件的固定装置:固定装置应尽可能的模拟试件在使用中的安装状态,例如安装在墙上的试验设备,则固定装置应模拟一堵墙。 试件的支架:支架的底座面积应小于试件的底座面积,支架座是一个有1r/min旋转速度和约100mm偏心度的转动台(旋转台轴线和试件轴线 之间的距离),也可以是一个不转动的台子。支架应能在任何试验位置上夹住试件,并能根据需要从垂直面倾斜最大至90°。 |
试验方法 | 试验L 沙法试验 |
标准编号 | GB 2423.37-2006 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验L 沙法试验 |
试验目的 | 空气中悬浮的砂尘对产品的影响 |
试验方法/条件 | 试验用尘:干燥的非腐蚀性的细粉尘,尘浓度:(600±200)g/(㎡▪h),气流:垂直气流,气流速度:均匀分布,湿度:≤25% |
严酷等级 | 压力降为2kPa(20mbar)或5kPa(50mbar),持续时间2h。 大气压,持续时间4h |
适用试验箱 | 砂尘试验箱LRHS-512-PS |
试验箱要求 | 试验箱应使样品暴露于垂直的非层流且含有规定数量的尘的气流中。为此,应搅拌试验用尘并且吹入密封试验箱。 试验箱内的气压应能够按照4.1.4.6的要求进行交变。 沉降在试验箱底部的尘应循环使用。 样品体积不应超过试验箱体积的25%,样品底座不应超过试验箱工作空间水平面积的50%。 |
试验方法 | 试验Cy 恒定湿热 主要用于元件的加速试验 |
标准编号 | GBT 2423.50-1999;IEC 60068-2-67:1995 |
标准名称 | 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Cy 恒定湿热 主要用于元件的加速试验 |
范围 | 一种以加速方式评价小型电工电子产品,主要是非气密元件耐湿热劣化效应的试验方法 |
试验方法/条件 | 温度:85℃,湿度:85% |
严酷等级 | 温度:85℃,湿度:85% 持续时间:168,504,1000,2000 |
适用试验箱 | 恒温恒湿试验箱LRHS-101-LH 高低温交变湿热试验箱LRHS-101A-LJS |
试验箱要求 | 能产生表1中给出的湿度和相对湿度条件,并至少保持2000h不间断; 试验期间,应能提供受控的温湿度条件,并能根据规定的斜率升温和降温; 试验箱内的温度和湿度应由放置在工作空间内或(和)能给出相同结果的其他区域内的传感装置监测; 应从工作空间不断排水,且不能重复使用; 凝结水不允许落在试验样品上; 箱壁结构材料不应引起试验样品的明显腐蚀和降低加湿用水质量 |